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X射线荧光光谱法测定电熔镁砂的主次成分 被引量:7

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摘要 采用粉末压片,硼酸镶边垫底的制样方法,用波长色散X射线荧光光谱仪测定电熔镁砂中的SiO2、Al2O3、CaO、Fe2O3,MgO采用差减法计算。本法分析速度快,测量精密度好,测量结果与湿法化学分析结果相符。
出处 《江苏冶金》 2006年第3期45-47,共3页 Jiangsu Metallurgy
  • 相关文献

参考文献2

  • 1中华人民共和国入境检验检疫行业标准.出口镁砂中的氧化镁、氧化硅、氧化钙、氧化铁、氧化铝、氧化锰、氧化钛的测定X射线荧光光谱法[s].SN/T1999-1995.
  • 2R·特希昂,F·克来特.X-射线荧光定量分析原理[M],北京:冶金部钢铁研究总院,1985.

同被引文献196

引证文献7

二级引证文献46

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