摘要
存储器芯片内含有大量电路单元,每个电路单元都需要作0、1测试,然后每字节由多种数组作逻辑状态测试。实践证明,1Gb的DRAM具有45个有源引脚,由于不能使用边界扫描和可测试性设计,只能使用逻辑数组测试法,单芯片的测试时间约为120秒,测试成本约占总成本的10%。作为对比,非存储器的通用芯片,在有源引脚数相同的情况下,由于使用边界扫描和可测试性设计,测试时间只要1至10秒,测试成本可明显降低。
出处
《国外电子测量技术》
2006年第8期80-80,共1页
Foreign Electronic Measurement Technology