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台积电和ARM合作降低65纳米低功耗测试芯片功耗
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摘要
台积电和ARM日前联合宣布：双方在65纳米低功耗测试芯片上的设计合作显著降低了其动态功率和耗散（Leakage）功率。两家公司认为创新的低功耗设计技术对于最终的成功起到了关键的作用。
出处
《电子元器件应用》
2006年第8期129-129,共1页
Electronic Component & Device Applications
关键词
功耗测试
ARM
芯片
纳米
合作
设计技术
低功耗
功率
分类号
TP303.3 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
TP332 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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