摘要
介绍了用横向放大率法确定两薄透镜组成的光具组基点的原理和方法,该方法采用线阵光电耦合器件(CCD)测量物经光学系统成像的横向放大率,进一步提高了测量精度.
The theory and method of using lateral magnification to determine the cardinal point of compound optical system are introduced. Since CCD is used, the high measurement precision is obtained.
出处
《大学物理》
北大核心
2006年第8期40-41,共2页
College Physics
基金
陕西省延安大学面向21世纪教改项目(YDJG05-01)
关键词
光具组
基点
横向放大率
optical system
cardinal point
lateral magnification