OPENSTAR^(TM) ATE及第三方测试模块开发
摘要
介绍开放架构 ATE 的标准——OPENSTAR^(TM),并探讨测试模块的概念及其开发整合的流程。
出处
《集成电路应用》
2006年第9期53-54,共2页
Application of IC
-
1Advantest(Suzhou)Co.,Ltd..基于T2000的RFIC低成本测试解决方案[J].电子测试,2008,19(11):49-54.
-
2周震一.开放架构ATE-开启测试系统新时代[J].半导体行业,2006(1):70-72.
-
3泛华恒兴推出高性价比PCI多功能数据采集卡[J].电子测量与仪器学报,2013,27(2):104-104.
-
4泛华恒兴推出高性价比PCI多功能数据采集卡[J].自动化技术与应用,2013(2):106-106.
-
5泛华恒兴推出高性价比PCI多功能数据采集卡[J].国外电子测量技术,2013,32(2):69-69.
-
6泛华恒兴推出高性价比PCI多功能数据采集卡[J].工业控制计算机,2013,26(2):69-69.
-
7刘威,王倩.军用软件自测试实践与分析[J].火力与指挥控制,2011,36(6):144-147. 被引量：4
-
8王欣.清凉体验[J].个人电脑,2004,10(6):18-20.
-
9李学哲,付永钦,黄成玉,邓永红.一种基于CPLD的并行测试总线研究[J].测控技术,2012,31(3):77-79. 被引量：2
-
10T2000 EDA Linkaqe——SoC从设计到量产的整体解决方案[J].半导体行业,2009(1):54-57.
