期刊文献+

采用法拉第杯评价ESEM的电荷环境

下载PDF
导出
出处 《电子显微学报》 CAS CSCD 2006年第B08期140-141,共2页 Journal of Chinese Electron Microscopy Society
基金 国家自然科学基金资助项目(No.60171024) 北京市教委基金资助项目(No.KM200610005030)
  • 相关文献

参考文献6

  • 1Danilatos G D. Foundation of ESEM [ J ]. Advances in Electronics and Electron Physics, 1988,71 : 110 - 248.
  • 2Toth M,Thiel B L, Donald A M. On the role of electron-ion recombination in low vacuum SEM [ J ]. Journal of Microscopy, 2002,205:86 - 95.
  • 3Watt G B, Griffin J. Charge contrast imaging of geological materials in the environmental scanning electron microscope[ J ]. American Mineralogist, 2000,85 : 1784 - 1794.
  • 4吉元,张隐奇,权雪玲,张虹,钟涛兴.非导电材料的荷电衬度的探讨[J].电子显微学报,2005,24(4):376-376. 被引量:2
  • 5Goldstein J I. Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis [ M ]. Kluwer Academic : Plenum Publishers,1992. 220 - 245.
  • 6Thiel B L, Bache I C, Fletcher A L, Meredith P, Donald A M. An improved model for gaseous amplification in the environmental SEM [ J] . Journal of Microscopy, 1997, 187 :143 - 157.

共引文献1

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部