在微尖锥场发射显示器件中荧光灯亮度衰退的研究

在气压 １×１０＾－６至１×１９０＾－９乇范围内，用２ｋＶ能量的电子束轰击同上的ＺｎＳ荧光粉薄膜，在轰击过程中，充入各种不同的气体如氢气，氧气，以评估它们对表面状态的影响。俄歇电子能谱分析数据表明：当有氧气，氢气存在时，在电子轰击过程中，荧光粉表面的硫含量减少。