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硅晶体定向测量的光学方法
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摘要
前言 晶体的定向是由与晶粒的形状和晶格所确定的晶向有关的晶体的各几何方向间的联系来确定的。硅晶体定向测量的方法很多,但相比之下,光学方法更具有特点。它使用起来简单、定向准确、可靠,能够处理任何半导体应用中的定向测量问题。
作者
黄燕
机构地区
机械电子工业部第
出处
《电子工业专用设备》
1989年第2期31-35,共5页
Equipment for Electronic Products Manufacturing
关键词
硅
定向测量
光学方法
晶体
分类号
TN304.12 [电子电信—物理电子学]
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电子工业专用设备
1989年 第2期
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