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紫外光度法测定PCB硫酸镍、乳酸镀金/镍液中的微量硫脲
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摘要
给出了紫外光度法测定PCB化学镀金/镍中,以硫酸镍、乳酸为主的镀金/镍组分液中微量硫脲含量的技术条件。根据试验结果,PH至12,波长235nm,硫脲浓度在0ug/mL~6ug/mL范围内,线性系数r=0.9996,相对标准偏差小于1%,加标回收率为97.8%~101.6%。本分析方法仪器简单,适宜于硫酸镍、乳酸镀金/镍液中微量硫脲的分析。
作者
李义国
王恒义
叶绍明
郑彤
机构地区
广东东硕科技有限公司
出处
《印制电路资讯》
2006年第5期78-80,共3页
Printed Circuit Board Information
关键词
紫外光度法
硫脲
镀镍
分析
分类号
TQ153.2 [化学工程—电化学工业]
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