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PLD自动测试程序生成系统 被引量:5

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摘要 本文讨论基于PLD设计文件的PLD自动测试程序生成技术,包括设计文件解析技术:测试向量生成算法;测试向量自动生成技术;测试程序自动生成技术;以及相应的ATPG技术,并介绍我们研究开发的PLD器件自动测试程序生成系统——PLDTEST。
出处 《计算机与数字工程》 1996年第4期25-32,共8页 Computer & Digital Engineering
  • 相关文献

参考文献1

共引文献1

同被引文献9

  • 1石坚 等.PLD自动测试生成技术[A]..中国测试年会文集[C].,1996..
  • 2吴丹 石坚.ispLSI自动编程与测试技术[J].电子测量与仪器学报,2002,:16-16.
  • 3Lattice Semiconductor Corporation: Lattice Data Book 1994.
  • 4吴丹 石坚.ispLSI自动编程与测试技术[J].《电子测量与仪器学报》,2002,16.
  • 5石坚.PLD自动测试生成技术[P]..《中国测试年会文集》[C].,1996..
  • 6Lattice Semiconductor Corporation: Lattice Data Book 1994.
  • 7石坚等:"PLD自动测试生成技术",第八届全国集成电路测试学术年会论文集,1996
  • 8石坚,沈森祖.VLSI测试生成算法[J].计算机与数字工程,1998,26(1):19-24. 被引量:4
  • 9石坚,吴丹,韩红星.Lattice可编程器件测试程序开发技术[J].计算机与数字工程,2004,32(1):38-41. 被引量:4

引证文献5

二级引证文献6

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