测试图形程序的进一步研究：PATTERN抽象及再实现

A FURTHER STUDY OF IC TEST PATTERNS

异构自动测试仪（ＡＴＥ）之间的测试图形程序移植是一项难度很高的工作。通常采用的方法是对测试图形向量进行逐条直移。这样，如果在异构ＡＴＥ测试图形语言之间找不到对应的语言成分，将导致实际有可能成功的移植失败。并且，即使这样移植成功，移植的测试图形程序可保证词法和语法的正确性，但在大多数情况下，这些程序仍不能在目标ＡＴＥ上正确运行。本文在详细分析了传统移植方法后，提出一种基于异构ＡＴＥ功能对等的移植方法，使测试图形程序在移植前后保持其意义的一致性。利用这种方法，可以大大提高测试图程序的可移植性。

in this paper, a new method of describing iC test pattern migration is presented. The method uses 'function equivalent theory' to evaluate Automatic Test Equipment (ATE), and uses 'function atoms' and 'standard events' to interpret the testpattern. As a result, the transportability of test patterns is expected to be improvedgreatly.