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东芝65nm设计流程采用Cadence QRC EXTRACTION
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摘要
Cadence设计系统公司宣布东芝已采用Cadence QRC Extraction,用于其最先进的65nm设计流程。Cadence QRC Ectraction为下一代工艺节点提供硅精确的寄生参数提取,包括基于敏感性和化学机械抛光(CMP)模型的提取。
出处
《电子与电脑》
2006年第9期131-131,共1页
Compotech
关键词
Cadence设计系统公司
设计流程
东芝
化学机械抛光
参数提取
敏感性
分类号
TN402 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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电子与电脑
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