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射线底片中的缺陷定量技术

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摘要 底片是射线检测的评判依据,但是容易受到环境的影响而发生变化(发霉、污损);生产中大量的底片也不便管理和查阅。将底片数字化,可以实现无失真存储,稳定性高,更便于交流和分析,利用数字图像处理技术可对缺陷进行定量分析。
出处 《中国工程物理研究院科技年报》 2004年第1期128-129,共2页 Annual Report of China Academy of Engineering Physics
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