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射线底片中的缺陷定量技术
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摘要
底片是射线检测的评判依据,但是容易受到环境的影响而发生变化(发霉、污损);生产中大量的底片也不便管理和查阅。将底片数字化,可以实现无失真存储,稳定性高,更便于交流和分析,利用数字图像处理技术可对缺陷进行定量分析。
作者
孙朝明
徐彦霖
王增勇
出处
《中国工程物理研究院科技年报》
2004年第1期128-129,共2页
Annual Report of China Academy of Engineering Physics
关键词
射线底片
定量技术
缺陷
数字图像处理技术
射线检测
发生变化
定量分析
数字化
分类号
TP311.52 [自动化与计算机技术—计算机软件与理论]
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中国工程物理研究院科技年报
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