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强光光学元件波前检测算法
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摘要
针对强光光学元件高精度检测中使用的两个新参数一——波前位相梯度和功率谱密度的数值计算方法进行了研究,并对目前使用的大口径干涉仪传递函数进行了实验标定。
作者
邓燕
柴立群
许乔
出处
《中国工程物理研究院科技年报》
2004年第1期169-170,共2页
Annual Report of China Academy of Engineering Physics
关键词
光学元件
波前
强光
测算法
数值计算方法
功率谱密度
高精度检测
实验标定
分类号
TP212 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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1
徐新华,王青,宋波,傅英.
基于子孔径拼接技术的大尺寸光学材料均匀性检测系统[J]
.光学学报,2012,32(4):118-124.
被引量:13
中国工程物理研究院科技年报
2004年 第1期
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