高能轫致辐射光源参量及测量原理

准确提供高能闪光照相中光源参量对闪光图像的品质有重要意义。文中使用解析分析法和X射线输运的MC法讨论了源能谱、1m处照射量、光源照射量角分布和光源有效尺寸的测量方法和测量原理。阐明了对电子束和束斑尺寸的联合限制条件，以确保小角度内照射量分布的均匀性高于95％。对于MeV级光源，证明了传统的小孔法和狭缝法不能直接用来确定光源的有效尺寸，而轫边法能直接提供所需要的结果。