强磁场处理可使微晶形成三轴取向

日本的强磁场研究中心与首都大学东京都市环境学部集团共同研究成功了利用强磁场取向处理，可由粉末试样获得单晶X射线衍射图像。一般使用粉末试样进行X射线结构分析时，因为粉末试样中每个微晶的结晶取向都是紊乱随机的，而为获取衍射信息受到很大限制，特别是在分析纳米晶时就更加困难。因为如果能够使微晶粉末形成三轴取向，就有可能由粉末试样获得与单晶体同等的X射线分析。