台积电和ARM合作，显著降低65纳米低功耗测试芯片的功耗

日前，台积电和ARM宣布：双方在65纳米低功耗测试芯片上的设计合作显著降低了其动态功率和耗散（Leakage）功率。两家公司认为创新的低功耗设计技术对于最终的成功起到了关键的作用。 长达一年的合作成果是一片拥有先进功耗管理技术的基于ARM926EJ-S^TM处理器的65纳米测试芯片。通过采用动态电压和频率缩放技术，测试芯片可以在针对各种运行模式的最低可能功耗水平下运行。这样，ARM测试芯片将动态功耗降低了50％以上。此外令人瞩目的是在这个台积电65LP低耗散工艺上，先进的功率门控技术进一步把待机耗散降低了8倍。