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高性能SFT9500型荧光X射线膜厚仪
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摘要
日本精工纳米科技有限公司将推出一款全新的,用于测定微小区域的镀膜厚度及RollS对象有害元素的最新产品一SFT9500。
出处
《电子制作》
2006年第10期4-4,共1页
Practical Electronics
关键词
荧光X射线
500型
膜厚仪
纳米科技
有害元素
镀膜厚度
微小区域
分类号
TH838.3 [机械工程—精密仪器及机械]
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