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2006安捷伦数字测量论坛成功举行
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摘要
安捷伦科技近日在北京举办了2006安捷伦数字测量论坛(ADMF)。在本届论坛期间,安捷伦再次携手Xilinx和Microchip两大合作伙伴,共同推进从消费电子领域到高速数字设计领域全面数字技术测试解决方案。
出处
《世界电子元器件》
2006年第10期97-97,共1页
Global Electronics China
关键词
安捷伦科技
数字测量
论坛
MICROCHIP
XILINX
测试解决方案
高速数字设计
合作伙伴
分类号
TN43 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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1
安捷伦科技数字测量论坛关注行业未来趋势[J]
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2
安捷伦数字测量巡回论坛展示数字设计测量未来[J]
.世界电子元器件,2008(9):81-81.
3
安捷伦科技公司在数字测量论坛(ADMF)上展示数字设计测量的未来发展[J]
.国外电子测量技术,2008,27(7):80-80.
4
安捷伦数字测量论坛2006在京成功举行[J]
.电子测量技术,2006,29(5):224-224.
5
安捷伦携手行业领袖推进全面数字技术测试解决方案[J]
.电信科学,2006,22(10):3-3.
6
益莱储参加“ADMF2012安捷伦数字测量峰会”[J]
.今日电子,2012(6):62-62.
7
安捷伦ADMF2006在京成功举行[J]
.电子测试(新电子),2006(10):115-115.
8
胡志东,赵军.
基于信号完整性设计理念的高速数据传输设计[J]
.空载雷达,2008(3):38-43.
9
安捷伦全新比特误码率测试解决方案能够更迅速地完成设计验证 J-BERT M8020A可加速深入洞察高速数字设备的性能裕量[J]
.电子测量技术,2014,37(2):137-137.
10
宫丽华.
一路跟踪数字电路发展 安捷伦16800系列逻辑分析仪重磅出击[J]
.电子测试(新电子),2006(7):92-92.
世界电子元器件
2006年 第10期
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