SIGNALTEK^(TM)线缆性能测试仪
出处
《智能建筑与城市信息》
2006年第10期78-80,共3页
Intelligent Building and City Infomation
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1刘家松.印制电路板性能测试仪[J].微电子测试,1989(3):14-20.
-
2美国推出首款光纤与铜缆性能测试仪[J].光机电信息,2007,24(3):54-54.
-
3安捷伦推出新型串行BERT误码测试仪N4906B[J].电子测试(新电子),2005(7):93-93.
-
4东尼.博赞,巴利.博赞.如何作书面报告和演讲?——《思维导图》节选[J].程序员,2009(6):128-129. 被引量:4
-
5网泰公司推出高级网络协议及性能测试仪[J].电信科学,2004,20(9):48-48.
-
6Olivera Novitovic,Aleksandar Novitovic,Divna Trebinjac.Assessment and Feedback[J].Journal of Chemistry and Chemical Engineering,2014,8(10):1001-1007.
-
7郭长永,郭建国.运算放大器性能测试仪的设计和制作[J].电子制作,2007(9):19-19.
-
8测试测量[J].世界电子元器件,2006(7):80-81.
-
9安捷伦推出低测试成本的3Gb/s BERT[J].电子测试(新电子),2006(6):108-108.
-
10何能正,董建云,何岸.以太网数据包分段传输技术[J].光通信技术,2013,37(9):24-27. 被引量:3
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