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安捷伦科技推出业内领先的自动光学检测系统 Medalist SJ50 Series3使检测时间缩短了50%,提高了系统分辨率

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摘要 2006年9月26日,安捷伦科技公司(NYSE:A)推出安捷伦Medalist SJ50 Series3自动光学检测系统(AOI)。新推出的SJ50 Series3扩大了现有的SJ50产品系列,提供了业内领先的光学性能。它改善了简便易用性,提高了检测速度、吞吐量、元件定位和支持能力,使得制造商能够处理各种新兴制造工艺技术,如01005元件。由于这些改进功能,制造商能够以更好的功能和分辨率跟上日益提高的线路速率。
机构地区 安捷伦科技公司
出处 《国外电子测量技术》 2006年第11期85-85,共1页 Foreign Electronic Measurement Technology

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