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安捷伦携手行业领袖,推进全面数字技术测试解决方案——安捷伦数字测量论坛2006在京成功举行

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摘要 安捷伦再次携手Xilinx和Microchip两大合作伙伴,在北京举办了本年度安捷伦数字测量论坛(ADMF)。共同推进从消费电子领域到高速数字设计领域全面数字技术测试解决方案。此次论坛主题围绕“全面的数字技术测试解决方案汇聚在ADMF”进行展开,通过多达14场的专题技术研讨会和产品亲身体验等活动,为电子设计工程师、系统设计师和技术管理人员介绍当前的技术热点和最新的电子技术发展趋势以及安捷伦所提供的相应的测量技术和凋试方法,帮助企业提升竞争力。
出处 《电子测量与仪器学报》 CSCD 2006年第5期25-25,共1页 Journal of Electronic Measurement and Instrumentation

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