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利用氧化锌缓冲层生长单晶氧化锌薄膜的方法
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摘要
本发明是一种利用氧化锌缓冲层生长单晶氧化锌薄膜的方法,其特征包括如下步骤:1)取一衬底;2)在该衬底上的硅(001)晶面上采用磁控溅射的方法低温生长氧化锌缓冲层;3)在氧化锌缓冲层上,采用MOCVD方法低温生长氧化锌外延薄膜。
出处
《无机盐工业》
CAS
北大核心
2006年第12期33-33,共1页
Inorganic Chemicals Industry
关键词
氧化锌薄膜
低温生长
缓冲层
单晶
硅(001)
MOCVD
磁控溅射
外延薄膜
分类号
TN304.21 [电子电信—物理电子学]
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被引量:1
无机盐工业
2006年 第12期
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