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改进的边界扫描技术和测试工具将产生接近100%的错误覆盖率
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摘要
HP公司(哥伦比亚Loveland)与Matsashita电气工业公司(日本东京)经过历时三年的旨在改进制造和测试方法的合作努力,已将错误复盖率提高到接近100%。此外,由于这个错误复盖率是在产品生命周期的较早阶段达到的,所以,在此之后所需的昂贵而又耗时的测试将可以省去。
作者
魏方
出处
《国外电子测量技术》
1996年第3期35-35,共1页
Foreign Electronic Measurement Technology
关键词
边界扫描
专用集成电路
测试工具
ASIC
分类号
TN402 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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国外电子测量技术
1996年 第3期
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