期刊文献+

电子产品研制阶段可靠性增长试验研究 被引量:4

Research of reliability growth and reliability growth test of electronic products in development stage
下载PDF
导出
摘要 结合工程实际经验,深入讨论了可靠性增长过程及实现途径,在保持试验条件和改进过程不变的条件下,实施了对具体型号电子产品的可靠性增长试验,达到了预期的可靠性增长目标,并且利用可靠性增长试验的数学模型(AMSAA模型)来评估产品的可靠性增长,对开展可靠性增长与可靠性增长试验工作具有重要的实际意义。 Reliability growth progress and technique,the means of reliability growth test are discussed. Reliability growth test to idiographic model electronic products are done on condition that the previous test condition and the modification procedure are kept unchanged. It achieved prospective target. Reliability growth of electronic products is evaluated based on AMSAA model.All of them are very important to the work of reliability growth.
出处 《国外电子元器件》 2006年第12期32-35,共4页 International Electronic Elements
关键词 电子产品 可靠性增长 可靠性增长试验 AMSAA模型 electronic products reliability growth reliability growth test AMSAA model
  • 相关文献

参考文献4

二级参考文献5

共引文献6

同被引文献42

引证文献4

二级引证文献14

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部