改进IC测试仪 减少测试时间

在增加测试范围时,减少产品的测试时间是大多数测试工程师的目标。首先考虑通过改进测试系统而使测试时间尽量缩短几秒。1995年我曾帮客户改进了一台用于测试晶片上的模拟IC的测试系统。改进后的系统,不但使测试时间从20秒降到30秒,而且也增加了测试范围。你也可用这些技术改进你的测试系统。