检查是对质量高速验证的崭新方法
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2006年第12期924-925,934,共3页
Semiconductor Technology
参考文献6
-
1Van de GOOR A J.Testing Semiconductor Memories:Theory and Practice[M],Chichester:Wiley,1991.
-
2刘晓楠,王震宇,尹美娟.USB在存储器芯片在线测试系统中的应用[J].微计算机信息,2005,21(10Z):131-133. 被引量：3
-
3白玉媛,杨士元,王红.数字电路自动测试生成实用化软件[C]//第三届中国测试学术会议(CTC'2004).中国:上海,2004:443-449.
-
4TestGroup.存储器数字电路板故障诊断测试数据自动生成[R].北京:清华大学自动化系,2005.:12.
-
5LASAR V6.0 for Test Generation[EB].Tyradyne,2000.
-
6De JONGE J H,SMEULDERS A J.Moving inversions test pattern is thorough.yet speedy[J].Computer Design,1976(5):169-173.
二级参考文献3
-
1肖距雄 翁铁成 宋中庆.《USB技术及应用设计》[M].清华大学出版社,2003..
-
2(美)SamuelP.Harbison Ⅲ Guy L.Steele Jr.著 邱仲潘等译.《C语言参考手册》[M].机械工业出版社,2003.8..
-
3鲁沐浴.《C语言最新编程技巧200例》[M].电子工业出版社,1994,6..
共引文献2
-
1成本茂,鞠艳秋,王红,杨士元.含存储器数字电路板的TPS开发研究[J].半导体技术,2006,31(12):926-929.
-
2吴艺圆,许盛伟,池亚平,方勇.电子政务网授权服务平台的安全性解决方案[J].仪器仪表用户,2008,15(1):103-104.
-
1韩国现代电子重拳出击第67届全国电子展[J].中国电子商情,2006(1):68-68.
-
2陈庆朗.现代电子信息产业发展趋势[J].云南师范大学学报（自然科学版）,1992,12(4):48-51.
-
3陈兆柱,张志军,丁志敏.浅谈种植业数据库的建设[J].中国果菜,2004,24(2):10-10.
-
4阿特拉斯·科普柯收购Edwards 进军工艺真空解决方案领域[J].矿山机械,2013(9):160-161.
-
5张琪.加快建设现代电子信息产业 开创电子信息技术应用新局面[J].中国计算机用户,2001(3):6-6.
-
6胡启立.努力建设现代电子信息产业[J].LSI制造与测试,1995,16(2):3-6.
-
7侯树庭.坚定不移地走质量品种效益型发展之路[J].冶金管理,1990,0(7):26-29.
-
8叶向阳.建材企业信息化现状、前景及对策建议[J].中国建材,2002(8):23-28.
-
9杜玉春.至强至胜 引领半导体真空新潮流[J].电子工业专用设备,2005,34(3):79-80.
-
10China to Increase Its Oil Stockpiling Significantly[J].China Oil & Gas,2007,14(3):35-35.
;
