提高TMS320LF2407A内部A/D采样精度和范围的方法被引量：2

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摘要一种提高TMS320LF2407A内部A/D采样精度和采样范围的方法。该方法解决了内部A/D的采样幅值为0～3.3V的瓶颈,并采用TMS320LF2407A内部A/D的两个独立的模拟转换通道的排序器SEQ1和SEQ2对采样对象进行分离,在不影响采样速率的情况下提高A/D的采样精度。

作者李超陈培锋

机构地区华中科技大学光电子科学与工程学院

出处《电子技术应用》北大核心 2006年第12期53-54,58,共3页 Application of Electronic Technique

关键词数字信号处理器 TMS320LF2407A 数据采集

分类号 TP336 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]

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