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NI成功主办第三届“设计、验证及测试论坛”

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摘要 近日,美国国家仪器有限公司(National Instruments,简称NI)于9月底在北京成功主办第三届“设计、验证及测试论坛”(Design Validation and Test Forum,即DVTF2006)。本届DVTF是继2004和2005年之后,NI连续第三年在中国地区成功地举办这一活动,并且DVTF的品牌业已在行业用户和媒体间确立了相当的知名度。
出处 《电子技术应用》 北大核心 2006年第12期139-139,共1页 Application of Electronic Technique

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