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扩展电阻探针在硅材料研究上的应用
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摘要
主要描述了扩展电阻探针在确定硅片电阻率的微区分布、硅片中施主态氧沉淀的微观分布,及经氧外扩散后,硅片表面区中间隙氧分布等方面的应用。
作者
李冀东
施锦行
佘思明
机构地区
中南工业大学应用物理与热能工程系
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1996年第6期35-37,共3页
Semiconductor Technology
关键词
扩展电阻探针
硅
电阻率
氧施主
分类号
TN304.12 [电子电信—物理电子学]
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半导体技术
1996年 第6期
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