期刊文献+

线阵CCD一维尺寸测量的实验

下载PDF
导出
摘要 CCD(Charge Coupled Devices)是20世纪70年代发展起来的新型半导体集成光电器件,能对光照做出反应并把反应的强度转换成相应的数值。它的应用范围很广,其中尺寸测量是最常见最简单的应用,而且是非常有效的非接触检测技术,被广泛地应用于各种加工件的在线检测和高精度、高速度的检测技术领域。本文旨在帮助对CCD感兴趣的同学通过一个简单的应用实例尽快地了解和掌握CCD的基本工作原理和一维尺寸测量应用中的关键知识点。
作者 贺永方 齐龙
出处 《实验室科学》 2006年第6期56-57,共2页 Laboratory Science
  • 相关文献

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部