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Si亚微米MOSFET Monte carlo模拟中散射机制的研究

Study on Scattering Mechanism in Submiron Si MOSFET Monte Carlo Simulation
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摘要 讨论了用Monte carlo法模拟半导Si内电子输运现象的散射机制,探讨并确定自由飞行时间的自散射方法,模拟电子在不同高场下的输运过程,并分析了速度过冲效应产生的原因. In this article, the author discusses the electronics transport process scattering mechanism in Si,probe in the self-sacttering methord to confirm the free-flight motion time. Then,the author simulates the electronics transport process in different high electric field ,and analyses the reasons of electronic velocity overshoot effect.
作者 董立亭
出处 《甘肃联合大学学报(自然科学版)》 2007年第1期40-43,48,共5页 Journal of Gansu Lianhe University :Natural Sciences
关键词 MONTE CARLO方法 自由飞行时间 散射机制 亚微米半导体器件 monte carlo methord free-flight motion time scattering mechanism suhmiron semiconductor device
  • 相关文献

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