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前放组件高低温测试系统设计

Design of Test System for Pre-amplifier Assembly Under High-Low Temperature Environment
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摘要 对前放组件高低温测试系统设计开发的背景及意义作了简单介绍,并阐述了系统的组成结构及测量原理;详细地论述了测试系统中标准设备的选取、专用设备和夹具的设计思路,最后对测试系统的接地和屏蔽进行了概括总结。 The background and significance of test system for pre-amplifier assembly under high-low temperature environment are introduced, and its composition structure and testing principles are discussed. The selection of standard equipments and design of special equipment and jig are presented in detail. At last, grounding and shielding of test system are summarized.
作者 赵自文
出处 《宇航计测技术》 CSCD 2006年第6期18-21,共4页 Journal of Astronautic Metrology and Measurement
关键词 温度测量 前放组件 测试系统 接地与屏蔽 Temperature measurement Pre-amplifier assembly Test system Grounding and shielding
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参考文献1

  • 1曾庆勇.微弱信号检测[M].杭州:浙江大学出版社,1996..

共引文献11

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