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正电子湮没技术(PAT)的开发与应用(二)——进口正电子湮没寿命谱仪的改造与特性指标测定被引量：1

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摘要扼要介绍了进口正电子湮没寿命谱仪的改造,以及谱仪的时间刻度、时间分辨率、计数率等指标的测定.

作者朱育群万玉金孙承烋任利红

出处《电子器件》 CAS 1990年第1期1-7,共7页 Chinese Journal of Electron Devices

关键词正电子湮没材料缺陷分析

分类号 O572.322 [理学—粒子物理与原子核物理]

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电子器件

1990年第1期

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