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集成多晶硅微机械的摩擦与磨损的在位测量
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摘要
这里,我们描述一组实验、在位测量和理论模型,用来评估集成多晶硅微机械的摩擦系数及其磨损.实验中使用了一个基于激光束的测量系统,监控微机械的旋转运动,记录速度高达1万每秒转的转速,最后在不同的操作条件下决定受测结构的生命周期,某些特殊的元件在运转百万次后仍能正常工作.
作者
K.J.GABRIEL
F.BEHI
R.MAHADEVAN
M.MEHREGANY
李明祥
机构地区
AT&T Bell Laboratorics
Massachusetts
出处
《电子器件》
CAS
1990年第3期45-46,共2页
Chinese Journal of Electron Devices
关键词
集成多晶硅
微机械
摩擦
磨损
测量
分类号
TN304.12 [电子电信—物理电子学]
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