测量光谱发射率的数学模型的建立

作者建立了一套测量300～500℃温度区间物体表面法向红外光谱发射率测量装置。在全面了解光电器件、电测设备原理基础上，从发射率定义出发，建立了与装置相对应的测量物体表面光谱发射率的数学（物理）模型，为实验数据的整理和不确定度评估打下了理论基础。