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高温热氧化工艺的统计模拟
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摘要
本文具体介绍了高温热氧化工艺的统计模拟方法,并在此基础上对一种具体氧化工艺进行了计算和分析,指出了合理选择氧化工艺参数搭配的途径,对小尺寸集成电路的制造有一定实际意义。
作者
沈燕辉
魏同立
出处
《电子器件》
CAS
1989年第2期32-33,共2页
Chinese Journal of Electron Devices
关键词
氧化工艺
统计模拟
集成电路
高温
分类号
TN405.5 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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