相频特性测试在TMS320F2812中的实现
The Realization of Phase-frequency Characteristic Test in TMS320F2812
摘要
在放大电路设计中，由于结构或元器件的不同，即使在设计上完全一样的电路，也有可能由于元器件特性的不同造成电路性能的变化。为了保证质量及性能参数的一致性，测试环节不可或缺。
出处
《世界电子元器件》
2007年第3期48-50,共3页
Global Electronics China
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