我国高精度纳米分辨力线位移测量技术获新突破

由长春光机所承担的应用基础研究项目——“高精度纳米分辨力线位移测量技术研究”，不久前在长春通过专家鉴定。鉴定委员会专家一致认为，该项研究所制成的高精度纳米测量传感器样机达到四倍光学倍频，技术指标达到国际先进水平。