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使用光纤白光干涉仪测一维形变实验 被引量:2

Measuring one-dimensional deformation using white-light fiber interferometer
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摘要 光纤白光干涉仪是使用波长为1310 nm的半导体发光二极管的相位调制型光纤传感器,可用于压力、温度和应变的测量.本文介绍了光纤白光干涉仪的工作原理,设计了一维形变实验. White-light fiber interferometer is a kind of phase modulated fiber-optic sensor, which uses 1310 nm semiconductor LED. The principle of the white-light fiber interferometer is introduced, and one-dimensional deformation experiment is designed.
作者 李叶芳 柳华
出处 《物理实验》 2007年第3期7-9,共3页 Physics Experimentation
关键词 光纤白光干涉仪 一维形变 零级干涉条纹 半导体发光二极管 white-light fiber interferometer one-dimensional deformation zero order interference fringe semiconductor LED
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