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BESⅢ读出系统测试与研发中的前端电子学模拟

The simulation of the front end electronics system in BESⅢ readout system testing
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摘要 介绍了BESⅢ读出系统测试与研发中利用MVME2431单板计算机对前端电子学的模拟实现。叙述了BESⅢ前端电子学系统的功能及模拟其系统的目的;着重介绍模拟所采用的技术路线和实现办法,并对电子学模拟的整体性能进行了客观评估。 This article introduces the method to simulate the front end electronics system In BESⅢ readout system testing by using MVME2431, which is an embeded single board computer. The Function of the front end electronics and the simulating purpose are described in the paper. In detail, the implementation and relevant arithmetic are discussed. Also the performance of the simulator is refered at the end of the presentation.
出处 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2007年第2期250-253,共4页 Nuclear Electronics & Detection Technology
关键词 POWERPC VME BESⅢ 数据获取 读出系统 系统模拟 PowerPC VME BESⅢ DAQ readout subsystem system simulation
  • 相关文献

参考文献5

  • 1陶宁,初元萍,赵京伟.BESIII数据获取系统中VME机箱读出模型的设计及分析[J].电子测量与仪器学报,2004,18(4):33-39. 被引量:4
  • 2陶宁.基于Universe Ⅱ的VME-PCI总线数据传输方式[C]//第十二届全国核电子学与探测技术学术年会论文集,昆明:2004.
  • 3Universe ⅡTM User Manual,Tundra,Spring 1998.
  • 4American National Standard for VME64 Extension for Physics and Other Applications,ANSI/VITA 23-1998.
  • 5VxWorks Reference Manual 5.4 Edition 1.WindRive.

二级参考文献3

  • 1.SingleBoardComputerProgrammer sReferenceGuide,V5100A PG3[].MVME.2003
  • 2AmericanNationalStandardforVME64ExtensionforPhysicsandOtherApplications. ANSI VITA23-1998 .
  • 3.Universe IITM User Manual[]..1998

共引文献5

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