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JTAG界面——一个供IC用的标准测试界面
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摘要
针对大规模集成电路中利用传统的探针测试方法浪费时问,不能检测IC引脚内部信号的原因。本文系统地论述了JTAG如何来解决上述问题的的方法和手段,以及JTAG的指令。
作者
吴腾奇
机构地区
华南师大物理系
出处
《电子测试》
2007年第2期81-86,共6页
Electronic Test
关键词
JTAG
寄存器
指令
标准
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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电子测试
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