高精度纳米分辨率线位移测量技术获新突破

近日．由长春光机所承担的应用基础研究项目--“高精度纳米分辨率线位移测量技术研究”，日前在长春通过专家鉴定。鉴定委员会专家一致认为，该项研究所制成的高精度纳米测量传感器样机达到四倍光学倍频，技术指标达到国际先进水平。