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分析铁矿石中的Tfe SiO2 P S Al2O3 MgO CaO TiO2——X荧光光谱玻璃熔片法 被引量:6

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摘要 本文研究了应用多道X—射线荧光光谱仪分析铁矿石中的Tfe、SiO2、P、S、Al203、MgO、CaO、TiO2,研究了熔样的方法,条件及仪器参数对分析结果的影响,并根据选定的方法采用多点标准样品法,绘制曲线。最后进行X荧光光谱法分析和标准值、化学值对照实验,效果较好,可以满足本单位生产分析。
作者 蒲雪芬
出处 《重钢技术》 2007年第1期31-37,共7页 CISC Technology
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