摘要
安捷伦科技于15日在北京举办了安捷伦首届纳米技术与测量解决方案研讨会。研讨会设有七大主题,分别是“安捷伦在纳米技术中的贡献”;“多用途的扫描探针显微镜”、“碳管场效应晶体管的纳米探测和评估”、“纳米器件的阻抗测量”、“纳米技术中的材料分析”、“使用脉冲发生器检定纳米器件”和“用于纳米技术研究的通用仪器”。在此次研讨会上,安捷伦原子力显微镜、半导体器件分析仪、阻抗分析仪、材料分析仪、脉冲发生器和其它通用仪器的专家们,在会议现场进行了测量仪器的演示。
出处
《电子产品世界》
2007年第4期105-105,共1页
Electronic Engineering & Product World