摘要
本文分析了开关电源中功率场效应晶体管损坏的主要原因,提出了相应的解决方法。
The paper analyzes the main damage reasons of power field effect transistors in switch power supplies and presents the solving method in correspondence with those damages.
出处
《电子质量》
2007年第4期37-38,共2页
Electronics Quality