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CWC映射和度量化定理(英文) 被引量:1

CWC Mappings and Metrization Theorems
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摘要 利用CWC映射,本文获得了对称度量空间和g可度量空间的特征,建立了几个度量化定理,改进了一些已知结果.主要的定理是证明正则空间X是可度量化空间当且仅当存在X上的CWC映射g满足如下条件: (Ⅰ)若序列{xn}和{yn}对于每一n∈N有xn∈g(n,yn)且xn→x,则yn→x.(Ⅱ)若序列{xn}和{yn}对于每一n∈N有yn∈g(n,yn)且xn→x,则yn→x. By using the concept of CWC, we establish several new metrization theorems, and obtain the characterization of g-metrizable spaces and symmetric spaces, which generalize some known results.
作者 燕鹏飞 林寿
出处 《数学进展》 CSCD 北大核心 2007年第2期153-158,共6页 Advances in Mathematics(China)
基金 Supported by the National Science Foundation of China(No.10471084,No.10571151)
关键词 可度量化空间 CWC映射 对称度量空间 g可度量空间 etrizable spaces .CWC mappings
  • 相关文献

参考文献2

二级参考文献3

  • 1林寿.关于序列覆盖s映射[J].数学进展,1996,25(6):548-551. 被引量:72
  • 2Yoshioka I.On the metrization of γ-spaces and ks-spaces [J].Q. and A. in Gen. Top,2001,19(1):55-73.
  • 3Heath R W and Hodel R E.Characterizations of σ-spaces [J].Fund. Math.,1973,77:271-275.

共引文献6

同被引文献1

引证文献1

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