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多芯片整合封测技术(2)——多芯片模块(MCM)的美丽与哀愁
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摘要
多芯片的出现同时也给封测技术的发展提出了新的挑战,针对这一点,本文详论了芯片封装的发展过程,以及各种封装的优缺点及其所需解决的问题。
作者
陈晓
出处
《电子测试》
2007年第4期19-23,36,共6页
Electronic Test
关键词
多芯片
制程
散热
封装
裸晶
BGA
分类号
TN47 [电子电信—微电子学与固体电子学]
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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电子测试
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