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VXI可编程开关及其在自动测试设备中的应用被引量：3

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摘要引言在ATE(自动测试设备)设计中,开关和开关系统往往是最容易被低估和忽视的部分。没有好的开关结构,将使系统中的仪器起不到应有的作用。实际上为了获得高的性能,真正的困难发生在:将被测装置连接到测试系统上时,如何获得透明的转接性能。总之,通道的质量是系统性能的一个重要因素。

作者李海鸥付平

出处《国外电子测量技术》 1997年第1期9-11,共3页 Foreign Electronic Measurement Technology

关键词自动测试设备 VXI可编程开关 ATE

分类号 TP216 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]

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国外电子测量技术

1997年第1期

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