改进IC测试系统 缩短测试时间

大多数测试工程师都有一个共同的目标,即在增加测试完整性的同时缩短测试时间。因此,即使为了缩短甚至几秒钟而对测试系统进行改进都是值得的。在1995年,曾帮助一位客户对其主要用于测试大圆片上模拟集成电路的测试系统进行了改进。该系统在改进后不仅使测试时间从20秒缩短到了3秒,而且还增加了测试的完整性。因此。